Zpět na hledáníDielectric and conducting properties of unintentionally and Sn-doped beta-Ga2O3 studied by terahertz spectroscopy (2020)výskyt výsledku
Identifikační kód | RIV/68378271:_____/20:00538408 |
---|---|
Název v anglickém jazyce | Dielectric and conducting properties of unintentionally and Sn-doped beta-Ga2O3 studied by terahertz spectroscopy |
Druh | J - Recenzovaný odborný článek (Jimp, Jsc a Jost) |
Poddruh | J/A - Článek v odborném periodiku je obsažen v databázi Web of Science společností Thomson Reuters s příznakem „Article“, „Review“ nebo „Letter“ (Jimp) |
Jazyk | eng - angličtina |
Vědní obor | 10302 - Condensed matter physics (including formerly solid state physics, supercond.) |
Rok uplatnění | 2020 |
Kód důvěrnosti údajů | S - Úplné a pravdivé údaje o výsledku nepodléhající ochraně podle zvláštních právních předpisů. |
Počet výskytů výsledku | 3 |
Počet tvůrců celkem | 6 |
Počet domácích tvůrců | 3 |
Výčet všech uvedených jednotlivých tvůrců | Filip Kadlec (státní příslušnost: CZ - Česká republika, domácí tvůrce: A, vedidk: 1959050, orcid: 0000-0001-6605-9687, researcherid: G-6338-2014) Christelle Kadlec (státní příslušnost: CZ - Česká republika, domácí tvůrce: A, vedidk: 5666406, orcid: 0000-0003-2820-4462, researcherid: G-7947-2014) Olexandr Romanyuk (státní příslušnost: CZ - Česká republika, domácí tvůrce: A, vedidk: 2061368, researcherid: G-6237-2014) N. Blumenschein (státní příslušnost: US - Spojené státy americké) J.F. Muth (státní příslušnost: US - Spojené státy americké) T. Paskova (státní příslušnost: US - Spojené státy americké) |
Popis výsledku v anglickém jazyce | Dielectric and conducting properties of unintentionally doped bulk and Sn-doped thin film β-Ga2O3 samples were studied using time- domain terahertz spectroscopy. The low-temperature spectra of the unintentionally doped sample were fit using a model involving two oscillators. The parameters of one of them show an unusual temperature dependence, in particular, a pronounced increase in the oscillator strength upon heating above 50 K. This is interpreted as an absorption due to thermally activated charge carriers moving in localized potential minima linked to the unintentional doping. Upon heating, the influence of this optical conductivity mechanism strongly increases, and the sample becomes opaque in the THz range near 100 K. The nanocrystalline Sn-doped Ga2 O3 thin film sample exhibits a much higher optical conductivity than the unintentionally doped bulk sample, and its spectra are remarkably stable over a broad temperature range (4–750 K).n |
Klíčová slova oddělená středníkem | terahertz spectroscopy,;gallium oxide,;localized charge carriers |
Stránka www, na které se nachází výsledek | https://doi.org/10.1063/1.5143735 |
DOI výsledku | 10.1063/1.5143735 |
Odkaz na údaje z výzkumu | - |
Údaje o výsledku v závislosti na druhu výsledku
Název periodika | Journal of Applied Physics |
---|---|
ISSN | 0021-8979 |
e-ISSN | - |
Svazek periodika | 127 |
Číslo periodika v rámci uvedeného svazku | 16 |
Stát vydavatele periodika | US - Spojené státy americké |
Počet stran výsledku | 8 |
Strana od-do | 1-8 |
Kód UT WoS článku podle Web of Science | 000531818600004 |
EID výsledku v databázi Scopus | 2-s2.0-85092059928 |
Způsob publikování výsledku | C - Omezený přístup (Restricted Access) |
Předpokládaný termín zveřejnění plného textu výsledku | - |
Ostatní informace o výsledku
Předkladatel | Fyzikální ústav AV ČR, v. v. i. |
---|---|
Dodavatel | MSM - Ministerstvo školství, mládeže a tělovýchovy (MŠMT) |
Rok sběru | 2021 |
Specifikace | RIV/68378271:_____/20:00538408!RIV21-MSM-68378271 |
Datum poslední aktualizace výsledku | 05.05.2021 |
Kontrolní číslo | 192264078 ( v1.0 ) |
Informace o dalších výskytech výsledku dodaného stejným předkladatelem
Dodáno AV ČR v roce 2021 | RIV/68378271:_____/20:00538408 v dodávce dat RIV21-AV0-68378271/01:2 |
---|---|
Dodáno GA ČR v roce 2021 | RIV/68378271:_____/20:00538408 v dodávce dat RIV21-GA0-68378271/01:1 |
Odkazy na výzkumné aktivity, při jejichž řešení výsledek vznikl
Projekt podporovaný MŠMT v programu EF | EF16_019/0000760 - Fyzika pevných látek pro 21. století (2018 - 2023) |
---|