| Identifikační kód |
RIV/68081731:_____/03:12030003 |
| Název v původním jazyce | Využití více opticky zachycených sond pro měření profilů nepřístupných průhledných povrchů. |
|---|
| Název v anglickém jazyce |
Use of optically trapped probes for measurement of inaccessible transparent surface profiles. |
| Druh |
J - Recenzovaný odborný článek (Jimp, Jsc a Jost) |
| Poddruh |
- |
| Jazyk |
cze - čeština |
| Obor - skupina |
B - Fyzika a matematika |
| Obor |
BH - Optika, masery a lasery |
| Rok uplatnění |
2003 |
| Kód důvěrnosti údajů |
S - Úplné a pravdivé údaje o výsledku nepodléhající ochraně podle zvláštních právních předpisů. |
| Počet výskytů výsledku |
2 |
| Počet tvůrců celkem |
5 |
| Počet domácích tvůrců |
4 |
| Výčet všech uvedených jednotlivých tvůrců |
Petr Jákl (státní příslušnost: CZ - Česká republika, domácí tvůrce: A, vedidk: 8291926)
Jan Ježek (státní příslušnost: CZ - Česká republika, domácí tvůrce: A, vedidk: 3139522)
Mojmír Šerý (státní příslušnost: CZ - Česká republika, domácí tvůrce: A, vedidk: 5170230)
Pavel Zemánek (státní příslušnost: CZ - Česká republika, domácí tvůrce: A, vedidk: 2038145)
M. Liška (státní příslušnost: CZ - Česká republika) |
| Popis výsledku v původním jazyce | Optická pinzeta se během několika posledních let stala neocenitelným pomocníkem při studiu silových interakcí mezi mikročásticemi, nanočásticemi, živými buňkami, subbuněčnými strukturami a jednotlivými makromolekulami [1,2]. Její princip využívá skutečnosti, že dielektrická částice s indexem lomu vyšším než je okolní médium, je tažena do místa s největší intenzitou laserového svazku. Tyto síly se pohybují v řádech jednotek až stovek pN a umožňují prostorové zachycení dielektrických objektů o velikostechod několika desítek nanometrů po desítky mikrometrů. Doplní-li se sestava citlivým systémem pro detekci výchylky zachyceného objektu a vhodnou kalibrační metodou, lze ji využít jako citlivý profilometr pro měření povrchů, ke kterým není přímý mechanickýpřístup a které jsou např. v imerzním prostředí. |
|---|
| Popis výsledku v anglickém jazyce |
In recent years, optical tweezers have become an invaluable tool at study of power interactions between micro-particles, nano-particles, live cells, sub-cellular structures and individual macromolecules [1,2]. Their princi ple exploits the fact, that a dielectric particle with the refraction index higher than the surrounding medium, is pulled to the place with the biggest intensity of the laser beam. These powers span in orders from units to hundreds of pN and enable spatial trapping of dielectric objects of sizes from several tens of nanometers to tens of micrometers. If the configuration is supplemented with a sensitive system for detection of deviation of the trapped object and a suitable callibration method, it is possible to use it as a sensitiveprofilometer for measurement of surfaces, which are not directly mechanically accessible and which are e.g. in an immersion environment. |
| Klíčová slova oddělená středníkem |
optical tweezers; microparticles; nanoparticles |
| Stránka www, na které se nachází výsledek |
- |
| Odkaz na údaje z výzkumu |
- |