Informační systém výzkumu,
vývoje a inovací

Rejstřík informací o výsledcích

Jednoduché vyhledávání

Zpět na hledáníLaser and ion beams graphene oxide reduction for microelectronic devices (2020)výskyt výsledku

Identifikační kód RIV/61389005:_____/20:00523925
Název v anglickém jazyce Laser and ion beams graphene oxide reduction for microelectronic devices
Druh J - Recenzovaný odborný článek (Jimp, Jsc a Jost)
Poddruh J/A - Článek v odborném periodiku je obsažen v databázi Web of Science společností Thomson Reuters s příznakem „Article“, „Review“ nebo „Letter“ (Jimp)
Jazyk eng - angličtina
Vědní obor 10305 - Fluids and plasma physics (including surface physics)
Rok uplatnění 2020
Kód důvěrnosti údajů S - Úplné a pravdivé údaje o výsledku nepodléhající ochraně podle zvláštních právních předpisů.
Počet výskytů výsledku 3
Počet tvůrců celkem 5
Počet domácích tvůrců 3
Výčet všech uvedených jednotlivých tvůrců Mariapompea Cutroneo (státní příslušnost: CZ - Česká republika, domácí tvůrce: A, vedidk: 1549499, orcid: 0000-0002-8416-8454)
Vladimír Havránek (státní příslušnost: CZ - Česká republika, domácí tvůrce: A, vedidk: 3272591, researcherid: G-9451-2014)
Alfio Torrisi (státní příslušnost: IT - Italská republika, domácí tvůrce: A, orcid: 0000-0003-2404-5062, researcherid: G-6649-2019)
L. Silipigni (státní příslušnost: IT - Italská republika)
L. Torrisi (státní příslušnost: IT - Italská republika)
Popis výsledku v anglickém jazyce Reduced graphene oxide (rGO) is a two-dimensional material, which is attracting increasing attention due to its special properties. It can be obtained by laser or ion beam irradiations of pristine graphene oxide (GO). It shows high mechanical resistance, considerable electric and thermal conductivity. All these rGO characteristics together with the high number of molecular species that can be embedded between its layers, make graphene oxide a potential material for electronic sensors or efficient support on which conductive strips, condensers, and micrometric electronic devices can be designed. In particular, as it is described in this paper, it is possible to carry out high spatial resolution lithography in GO by using a focused laser or micro ion beam in order to design macro, micro, and submicron geometrical structures. The use of the reduced graphene oxide for the laser and ion beam fabrication of electrical resistances and capacitances is presented.
Klíčová slova oddělená středníkem Graphene oxide;ion beam reduction;lithography;laser;ion beam;electronic device
Stránka www, na které se nachází výsledek https://doi.org/10.1080/10420150.2019.1701456
DOI výsledku 10.1080/10420150.2019.1701456
Odkaz na údaje z výzkumu -

Údaje o výsledku v závislosti na druhu výsledku

Název periodika Radiation Effects and Defects in Solids
ISSN 1042-0150
e-ISSN -
Svazek periodika 175
Číslo periodika v rámci uvedeného svazku 3-4
Stát vydavatele periodika GB - Spojené království Velké Británie a Severního Irska
Počet stran výsledku 15
Strana od-do 226-240
Kód UT WoS článku podle Web of Science 000522130000002
EID výsledku v databázi Scopus 2-s2.0-85082713888
Způsob publikování výsledku C - Omezený přístup (Restricted Access)
Předpokládaný termín zveřejnění plného textu výsledku -

Ostatní informace o výsledku

Předkladatel Ústav jaderné fyziky AV ČR, v. v. i.
Dodavatel MSM - Ministerstvo školství, mládeže a tělovýchovy (MŠMT)
Rok sběru 2021
Specifikace RIV/61389005:_____/20:00523925!RIV21-MSM-61389005
Datum poslední aktualizace výsledku 05.05.2021
Kontrolní číslo 192262350 ( v1.0 )

Informace o dalších výskytech výsledku dodaného stejným předkladatelem

Dodáno AV ČR v roce 2021 RIV/61389005:_____/20:00523925 v dodávce dat RIV21-AV0-61389005/01:1
Dodáno GA ČR v roce 2021 RIV/61389005:_____/20:00523925 v dodávce dat RIV21-GA0-61389005/01:1

Odkazy na výzkumné aktivity, při jejichž řešení výsledek vznikl

Projekt podporovaný MŠMT v programu EF EF16_013/0001812 - Centrum urychlovačů a jaderných analytických metod - OP (2017 - 2019)
Projekt podporovaný MŠMT v programu LM LM2015056 - Centrum urychlovačů a jaderných analytických metod (2016 - 2017)
Vyhledávání ...