Jednoduché vyhledávání

Zpět na hledáníIon-beam method characterization of erbium incorporation into glass surface for photonics applications (2004)výskyt výsledku

Identifikační kód	RIV/61389005:_____/04:00105595
Název v anglickém jazyce	Ion-beam method characterization of erbium incorporation into glass surface for photonics applications
Druh	J - Recenzovaný odborný článek (Jimp, Jsc a Jost)
Poddruh	-
Jazyk	eng - angličtina
Obor - skupina	D - Vědy o zemi
Obor	DN - Vliv životního prostředí na zdraví
Rok uplatnění	2004
Kód důvěrnosti údajů	S - Úplné a pravdivé údaje o výsledku nepodléhající ochraně podle zvláštních právních předpisů.
Počet výskytů výsledku	4
Počet tvůrců celkem	6
Počet domácích tvůrců	3
Výčet všech uvedených jednotlivých tvůrců	Vladimír Havránek (státní příslušnost: CZ - Česká republika, domácí tvůrce: A, vedidk: 3272591) Anna Macková (státní příslušnost: CZ - Česká republika, domácí tvůrce: A, vedidk: 5985498) Vratislav Peřina (státní příslušnost: CZ - Česká republika, domácí tvůrce: A, vedidk: 9699414) J. Špirková (státní příslušnost: CZ - Česká republika) O. Telezhniková (státní příslušnost: CZ - Česká republika) P. Třešnáková-Nebolová (státní příslušnost: CZ - Česká republika)
Popis výsledku v anglickém jazyce	We present the ion beam analytical technique (RBS, PIXE) characterization of erbium incorporation into the glass surface. In this paper we report on the characterization of our samples fabricated by medium temperature doping of erbium into the glass using electric-field assisted diffusion from Er3+ containing reaction melt. RBS (Rutherford backscattering spectroscopy) is very powerful tool for Er depth profile determination in the glass substrate especially in the case of used glass as GIL 13K, which isfree of the heavy trace elements. The PIXE (particle induced X-ray emission spectroscopy) is able to evaluate the Er integral amount in the glass substrate. The incorporated Er amount is influenced by experimental conditions as diffusion time, used current and wt.% of Er in the used melt or post-diffusion annealing treatment
Klíčová slova oddělená středníkem	lanthanides;glass surfaces;X-ray emission
Stránka www, na které se nachází výsledek	-
DOI výsledku	-
Odkaz na údaje z výzkumu	-

Údaje o výsledku v závislosti na druhu výsledku

Název periodika	Surface Science
ISSN	0039-6028
e-ISSN	-
Svazek periodika	566
Číslo periodika v rámci uvedeného svazku	1
Stát vydavatele periodika	NL - Nizozemsko
Počet stran výsledku	4
Strana od-do	111-114
Kód UT WoS článku podle Web of Science	-
EID výsledku v databázi Scopus	-
Způsob publikování výsledku	-
Předpokládaný termín zveřejnění plného textu výsledku	-

Ostatní informace o výsledku

Předkladatel	Ústav jaderné fyziky AV ČR, v. v. i.
Dodavatel	AV0 - Akademie věd České republiky (AV ČR )
Rok sběru	2005
Specifikace	RIV/61389005:_____/04:00105595!RIV/2005/AV0/A49005/N
Datum poslední aktualizace výsledku	05.09.2005
Kontrolní číslo	9783038

Informace o dalších výskytech výsledku dodaného stejným předkladatelem

Dodáno GA ČR v roce 2005	RIV/61389005:_____/04:00105595 v dodávce dat RIV/2005/GA0/A49005/N/2:2

Informace o dalších výskytech výsledku dodaného ostatními předkladateli

Dodáno GA ČR v roce 2005	RIV/60461373:22310/04:00011561 v dodávce dat RIV/2005/GA0/223105/N/1:1 předkladatelem Vysoká škola chemicko-technologická v Praze / Fakulta chemické technologie
Dodáno MŠMT v roce 2005	RIV/60461373:22310/04:00011561 v dodávce dat RIV/2005/MSM/223105/N/1:1 předkladatelem Vysoká škola chemicko-technologická v Praze / Fakulta chemické technologie

Odkazy na výzkumné aktivity, při jejichž řešení výsledek vznikl

Výzkumný záměr podporovaný AV ČR	AV0Z1048901 - Teoretické a experimentální studium atomových jader a využívání jaderných metod v interdisciplinárním výzkumu. (1999 - 2003)