| Identifikační kód |
RIV/00216224:14310/21:00119592 |
| Název v anglickém jazyce |
Comparison of HMDSO and HMDSZ thin films growth under dusty plasma conditions |
| Druh |
D - Stať ve sborníku |
| Jazyk |
eng - angličtina |
| Vědní obor |
10305 - Fluids and plasma physics (including surface physics) |
| Rok uplatnění |
2021 |
| Kód důvěrnosti údajů |
S - Úplné a pravdivé údaje o výsledku nepodléhající ochraně podle zvláštních právních předpisů. |
| Počet výskytů výsledku |
2 |
| Počet tvůrců celkem |
4 |
| Počet domácích tvůrců |
4 |
| Výčet všech uvedených jednotlivých tvůrců |
Vilma Buršíková (státní příslušnost: CZ - Česká republika, domácí tvůrce: A, vedidk: 5823803)
Štěpánka Kelarová (státní příslušnost: CZ - Česká republika, domácí tvůrce: A, vedidk: 9455817, orcid: 0000-0002-1747-5374)
Roman Přibyl (státní příslušnost: CZ - Česká republika, domácí tvůrce: A, vedidk: 6685014, orcid: 0000-0003-4342-4121)
Lukáš Zábranský (státní příslušnost: CZ - Česká republika, domácí tvůrce: A, vedidk: 8658935) |
| Popis výsledku v anglickém jazyce |
The present study is focused on the preparation of thin films by plasma enhanced chemical vapor deposition (PEDCV) in capacitively coupled plasma (CCP). Thin films were deposited from a mixture of oxygen and hexamethyldisiloxane (HMDSO) or hexamethyldisilazane (HMDSZ). Both monomers are well known and enable to prepare films with excellent properties such as high hardness, good abrasion resistance, hydrophobicity, and antibacterial properties. Also, these monomers are known for the creation of complex structures in plasma. This phenomenon is so-called dusty plasma. The main aim of the present work was to prepare a comparative study on the dust formation in both monomers. Complex study of surface and mechanical properties and chemical composition was done by a wide range of analytical instruments such as atomic force microscopy (AFM), nanoindentation technique, confocal microscopy, infrared spectroscopy with Fourier transformation (FTIR), stylus profilometer, and surface energy evaluation system (SEE system). |
| Klíčová slova oddělená středníkem |
Thin films;PECVD;dusty plasma;surface properties |
| Stránka www, na které se nachází výsledek |
https://www.confer.cz/nanocon/2020/3778-comparison-of-hmdso-and-hmdsz-thin-films-growth-under-dusty-plasma-conditions |
| DOI výsledku |
10.37904/nanocon.2020.3778 |
| Odkaz na údaje z výzkumu |
- |