| Identifikační kód |
RIV/68378271:_____/16:00468986 |
| Název v anglickém jazyce |
Far infrared and terahertz spectroscopy of ferroelectric soft modes in thin films: a review |
| Druh |
J - Recenzovaný odborný článek (Jimp, Jsc a Jost) |
| Poddruh |
- |
| Jazyk |
eng - angličtina |
| Obor - skupina |
B - Fyzika a matematika |
| Obor |
BM - Fyzika pevných látek a magnetismus |
| Rok uplatnění |
2016 |
| Kód důvěrnosti údajů |
S - Úplné a pravdivé údaje o výsledku nepodléhající ochraně podle zvláštních právních předpisů. |
| Počet výskytů výsledku |
2 |
| Počet tvůrců celkem |
2 |
| Počet domácích tvůrců |
2 |
| Výčet všech uvedených jednotlivých tvůrců |
Stanislav Kamba (státní příslušnost: CZ - Česká republika, domácí tvůrce: A, vedidk: 7348320)
Jan Petzelt (státní příslušnost: CZ - Česká republika, domácí tvůrce: A, vedidk: 6699189) |
| Popis výsledku v anglickém jazyce |
Far-infrared and terahertz spectroscopy of ferroelectric soft and central modes in thin films on substrates is reviewed. In addition to classical displacive proper ferroelectrics, also incipient and relaxor ferroelectrics and multiferroics are discussed. Special attention is paid to differences between the soft-mode behavior in thin films and bulk materials and their influence on the low-frequency permittivity. Particularly the effects of the thin film strains and depolarizing electric fields of the probing waves on the grain boundaries are emphasized. The soft-mode spectroscopy is shown to be a very sensitive tool to reveal the thin film quality. |
| Klíčová slova oddělená středníkem |
soft mode;central mode;ferroelectric thin film;terahertz spectroscopy;far-infrared spectroscopy |
| Stránka www, na které se nachází výsledek |
- |
| DOI výsledku |
10.1080/00150193.2016.1216702 |
| Odkaz na údaje z výzkumu |
- |