| Identifikační kód |
RIV/68378271:_____/15:00451941 |
| Název v anglickém jazyce |
Imaging three-dimensional surface objects with submolecular resolution by atomic force microscopy |
| Druh |
J - Recenzovaný odborný článek (Jimp, Jsc a Jost) |
| Poddruh |
- |
| Jazyk |
eng - angličtina |
| Obor - skupina |
B - Fyzika a matematika |
| Obor |
BM - Fyzika pevných látek a magnetismus |
| Rok uplatnění |
2015 |
| Kód důvěrnosti údajů |
S - Úplné a pravdivé údaje o výsledku nepodléhající ochraně podle zvláštních právních předpisů. |
| Počet výskytů výsledku |
1 |
| Počet tvůrců celkem |
4 |
| Počet domácích tvůrců |
1 |
| Výčet všech uvedených jednotlivých tvůrců |
Oleksandr Stetsovych (státní příslušnost: UA - Ukrajina, domácí tvůrce: A)
O. Custance (státní příslušnost: JP - Japonsko)
C. Moreno (státní příslušnost: JP - Japonsko)
T. K. Shimizu (státní příslušnost: JP - Japonsko) |
| Popis výsledku v anglickém jazyce |
Here we present a method for high-resolution imaging of nonplanar molecules and 3D surface systems using AFM with silicon cantilevers as force sensors. We demonstrate this method by resolving the step-edges of the (101) anatase surface at the atomic scale by simultaneously visualizing the structure of a pentacene molecule together with the atomic positions of the substrate and by resolving the contour and probe-surface force field on a C60 molecule with intramolecular resolution. The method reported here holds substantial promise for the study of 3D surface systems such as nanotubes, clusters, nanoparticles, polymers, and biomolecules using AFM with high resolution. |
| Klíčová slova oddělená středníkem |
noncontact atomic force microscopy (NC-AFM); submolecular resolution; three-dimensional dynamic force spectroscopy; high-resolution imaging |
| Stránka www, na které se nachází výsledek |
- |
| DOI výsledku |
10.1021/nl504182w |
| Odkaz na údaje z výzkumu |
- |