Zpět na hledáníOptical and magnetic resonance study of a-SiCxNy films obtained by magnetron sputtering (2014)výskyt výsledku
| Identifikační kód | RIV/68378271:_____/14:00431530 |
|---|---|
| Název v anglickém jazyce | Optical and magnetic resonance study of a-SiCxNy films obtained by magnetron sputtering |
| Druh | J - Recenzovaný odborný článek (Jimp, Jsc a Jost) |
| Poddruh | - |
| Jazyk | eng - angličtina |
| Obor - skupina | B - Fyzika a matematika |
| Obor | BM - Fyzika pevných látek a magnetismus |
| Rok uplatnění | 2014 |
| Kód důvěrnosti údajů | S - Úplné a pravdivé údaje o výsledku nepodléhající ochraně podle zvláštních právních předpisů. |
| Počet výskytů výsledku | 3 |
| Počet tvůrců celkem | 6 |
| Počet domácích tvůrců | 3 |
| Výčet všech uvedených jednotlivých tvůrců | Ján Lančok (státní příslušnost: CZ - Česká republika, domácí tvůrce: A, vedidk: 7433514) Dariia Savchenko (státní příslušnost: CZ - Česká republika, domácí tvůrce: A, vedidk: 2125587) Vladimír Vorlíček (státní příslušnost: CZ - Česká republika, domácí tvůrce: A, vedidk: 5662281) E. Kalabukhova (státní příslušnost: UA - Ukrajina) V. Kiselov (státní příslušnost: UA - Ukrajina) V. Kulikovsky (státní příslušnost: UA - Ukrajina) |
| Popis výsledku v anglickém jazyce | Amorphous silicon carbonitride (a-SiCxNy) thin films deposited on the SiO2 substrates by reactive magnetron sputtering was studied by Raman and electron paramagnetic resonance (EPR) spectroscopy. Raman analysis indicates the presence of C?N, Si?N, C?C bonds in a-SiCxNy films. Three EPR signals were revealed in a-SiCxNy/SiO2. One of them with g=2.0033 was attributed to the carbon-dangling bonds (CDB). Based on the lineshape and linewidth, the EPR signal was attributed to the unpaired electron delocalizedover sp2 carbon cluster. With the increase of nitrogen (N) content, the spin density of CDB significantly increases. From the temperature dependence of the linewidth and integral intensity of the CDB EPR signal, it was concluded that the antiferromagnetic ordering occurs in spin system. The antiferromagnetic exchange constant between CDBs was found. |
| Klíčová slova oddělená středníkem | dangling bonds; electron paramagnetic resonance; Raman spectroscopy; silicon carbonitride; thin films |
| Stránka www, na které se nachází výsledek | - |
| DOI výsledku | 10.1002/pssb.201451041 |
| Odkaz na údaje z výzkumu | - |
Údaje o výsledku v závislosti na druhu výsledku
| Název periodika | Physica Status Solidi B-Basic Solid State Physics |
|---|---|
| ISSN | 0370-1972 |
| e-ISSN | - |
| Svazek periodika | 251 |
| Číslo periodika v rámci uvedeného svazku | 6 |
| Stát vydavatele periodika | DE - Spolková republika Německo |
| Počet stran výsledku | 8 |
| Strana od-do | 1178-1185 |
| Kód UT WoS článku podle Web of Science | 000337608600007 |
| EID výsledku v databázi Scopus | - |
| Způsob publikování výsledku | - |
| Předpokládaný termín zveřejnění plného textu výsledku | - |
Ostatní informace o výsledku
| Předkladatel | Fyzikální ústav AV ČR, v. v. i. |
|---|---|
| Dodavatel | AV0 - Akademie věd České republiky (AV ČR ) |
| Rok sběru | 2015 |
| Specifikace | RIV/68378271:_____/14:00431530!RIV15-AV0-68378271 |
| Datum poslední aktualizace výsledku | 09.09.2015 |
| Kontrolní číslo | 152113587 |
Informace o dalších výskytech výsledku dodaného stejným předkladatelem
| Dodáno MŠMT v roce 2015 | RIV/68378271:_____/14:00431530 v dodávce dat RIV15-MSM-68378271/02:2 |
|---|---|
| Dodáno GA ČR v roce 2015 | RIV/68378271:_____/14:00431530 v dodávce dat RIV15-GA0-68378271/02:2 |
Odkazy na výzkumné aktivity, při jejichž řešení výsledek vznikl
| Podpora / návaznosti | Institucionální podpora na rozvoj výzkumné organizace |
|---|