Informační systém výzkumu,
vývoje a inovací

Rejstřík informací o výsledcích

Jednoduché vyhledávání

Zpět na hledáníEPR study of the nitrogen containing defect center created in selfassembled 6H SiC nanostructure (2013)výskyt výsledku

Identifikační kód RIV/68378271:_____/13:00396199
Název v anglickém jazyce EPR study of the nitrogen containing defect center created in selfassembled 6H SiC nanostructure
Druh D - Stať ve sborníku
Jazyk eng - angličtina
Obor - skupina B - Fyzika a matematika
Obor BM - Fyzika pevných látek a magnetismus
Rok uplatnění 2013
Kód důvěrnosti údajů S - Úplné a pravdivé údaje o výsledku nepodléhající ochraně podle zvláštních právních předpisů.
Počet výskytů výsledku 1
Počet tvůrců celkem 6
Počet domácích tvůrců 1
Výčet všech uvedených jednotlivých tvůrců Dariia Savchenko (státní příslušnost: CZ - Česká republika, domácí tvůrce: A, vedidk: 2125587)
N. Bagraev (státní příslušnost: RU - Ruská federace)
E. N. Kalabukhova (státní příslušnost: UA - Ukrajina)
L. Klyachkin (státní příslušnost: RU - Ruská federace)
A. Malyarenko (státní příslušnost: RU - Ruská federace)
B. D. Shanina (státní příslušnost: UA - Ukrajina)
Popis výsledku v anglickém jazyce Triplet center with spin state S = 1 is detected in the EPR spectrum of the self-assembled 6H SiC nanostructure obtained by non-equilibrium boron diffusion into the n-type 6H SiC epitaxial layer (EL) under conditions of the controlled injection of the silicon vacancies at the temperature of T = 9000C. From the analysis of the angular dependences of the EPR spectrum and the numerical diagonalization of the spin Hamiltonian, the value of the zero-field splitting constant D and g-factor are found to be D =114010-4 cm-1 and g|| = 1.9700, g(perpendicular to) = 1.9964. Based on the hyperfine (hf) structure of the defect originating from the hf interaction with one 14N nuclei, the large value of the zero-field splitting constant D and technological conditions of the boron diffusion into the n-type 6H SiC EL, the triplet center is tentatively assigned to the defect center consisting of nitrogen atom and silicon vacancy.
Klíčová slova oddělená středníkem VSiNC pair; self-assembled 6H SiC nanostructure; EPR
Stránka www, na které se nachází výsledek -
DOI výsledku 10.4028/www.scientific.net/MSF.740-742.389
Odkaz na údaje z výzkumu -

Údaje o výsledku v závislosti na druhu výsledku

Název sborníku Silicon Carbide and Related Materials 2012
ISBN -
ISSN 0255-5476
e-ISSN -
Počet stran výsledku 4
Strana od-do 389-392
Název nakladatele Trans Tech Publications Ltd
Místo vydání Zurich
Místo konání akce St Petersburg
Datum konání akce 02.09.2012
Typ akce podle státní příslušnosti účastníků WRD - Celosvětová
Kód UT WoS článku podle Web of Science 000319785500091
EID výsledku v databázi Scopus -

Ostatní informace o výsledku

Předkladatel Fyzikální ústav AV ČR, v. v. i.
Dodavatel AV0 - Akademie věd České republiky (AV ČR )
Rok sběru 2014
Specifikace RIV/68378271:_____/13:00396199!RIV14-AV0-68378271
Datum poslední aktualizace výsledku 01.09.2014
Kontrolní číslo 56348494

Odkazy na výzkumné aktivity, při jejichž řešení výsledek vznikl

Podpora / návaznosti Institucionální podpora na rozvoj výzkumné organizace
Vyhledávání ...