| Identifikační kód |
RIV/68081731:_____/09:00335298 |
| Název v anglickém jazyce |
Mapping the Local Density of States by Very Low Energy Scanning Electron Microscope |
| Druh |
D - Stať ve sborníku |
| Jazyk |
eng - angličtina |
| Obor - skupina |
J - Průmysl |
| Obor |
JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika |
| Rok uplatnění |
2009 |
| Kód důvěrnosti údajů |
S - Úplné a pravdivé údaje o výsledku nepodléhající ochraně podle zvláštních právních předpisů. |
| Počet výskytů výsledku |
1 |
| Počet tvůrců celkem |
2 |
| Počet domácích tvůrců |
2 |
| Výčet všech uvedených jednotlivých tvůrců |
Luděk Frank (státní příslušnost: CZ - Česká republika, domácí tvůrce: A, vedidk: 9000984)
Zuzana Pokorná (státní příslušnost: CZ - Česká republika, domácí tvůrce: A, vedidk: 8014531) |
| Popis výsledku v anglickém jazyce |
Single crystal and polycrystalline aluminium samples were imaged in the scanning low energy electron microscopes at energies of impinging electrons ranging between 0 and 90 eV. The integrated image signal at each energy was calculated and the resulting reflectance curves were compared to electron structure calculations. The influence of vacuum conditions and cleanliness of the substrate surface are discussed. |
| Klíčová slova oddělená středníkem |
scanning low energy electron microscopes; polycrystalline aluminium |
| Stránka www, na které se nachází výsledek |
- |
| Odkaz na údaje z výzkumu |
- |