Informační systém výzkumu,
vývoje a inovací

Rejstřík informací o výsledcích

Jednoduché vyhledávání

Zpět na hledáníDamage accumulation and structural modification in a- and c-plane GaN implanted with 400-keV and 5-MeV Au+ ions (2018)výskyt výsledku

Identifikační kód RIV/61389005:_____/18:00496731
Název v anglickém jazyce Damage accumulation and structural modification in a- and c-plane GaN implanted with 400-keV and 5-MeV Au+ ions
Druh J - Recenzovaný odborný článek (Jimp, Jsc a Jost)
Poddruh J/A - Článek v odborném periodiku je obsažen v databázi Web of Science společností Thomson Reuters s příznakem „Article“, „Review“ nebo „Letter“ (Jimp)
Jazyk eng - angličtina
Vědní obor 10304 - Nuclear physics
Rok uplatnění 2018
Kód důvěrnosti údajů S - Úplné a pravdivé údaje o výsledku nepodléhající ochraně podle zvláštních právních předpisů.
Počet výskytů výsledku 4
Počet tvůrců celkem 8
Počet domácích tvůrců 3
Výčet všech uvedených jednotlivých tvůrců Adéla Jagerová (státní příslušnost: CZ - Česká republika, domácí tvůrce: A, vedidk: 5774872)
Anna Macková (státní příslušnost: CZ - Česká republika, domácí tvůrce: A, vedidk: 5985498, researcherid: G-8536-2014)
Petr Malinský (státní příslušnost: CZ - Česká republika, domácí tvůrce: A, vedidk: 2200554, researcherid: G-9878-2014)
S. Akhmadaliev (státní příslušnost: DE - Spolková republika Německo)
R. Bottger (státní příslušnost: DE - Spolková republika Německo)
K. Klímová (státní příslušnost: CZ - Česká republika)
D. Sedmidubský (státní příslušnost: CZ - Česká republika)
Z. Sofer (státní příslušnost: CZ - Česká republika)
Popis výsledku v anglickém jazyce c-plane (0001) and a-plane (11-20) gallium nitride (GaN) epitaxial layers were grown by Metal organic Vapour Phase epitaxy (MOVPE) on sapphire and subsequently implanted with 400-keV and 5-MeV Au+ ions using fluences 5 x 10(14) to 5 x 10(15) cm(-2). The shallow Au depth profiling was accomplished by Rutherford backscattering spectrometry. The structural changes during implantation and subsequent annealing were characterised by Rutherford backscattering spectrometry channelling and Raman spectroscopy. The interplay between nuclear and electronic stopping, influencing defect accumulation, was monitored and discussed depending on GaN orientation. Post-implantation annealing induced a structural reorganisation of the GaN structure depending on the ion-implantation fluence, ion energy, and on the crystallographic orientation.
Klíčová slova oddělená středníkem damage accumulation in GaN;RBS channeling in ion-modified GaN;structure modification in c-plane and a-plane GaN
Stránka www, na které se nachází výsledek -
DOI výsledku https://doi.org/10.1002/sia.6403
Odkaz na údaje z výzkumu -

Údaje o výsledku v závislosti na druhu výsledku

Název periodika Surface and Interface Analysis
ISSN 0142-2421
e-ISSN -
Svazek periodika 50
Číslo periodika v rámci uvedeného svazku 11
Stát vydavatele periodika US - Spojené státy americké
Počet stran výsledku 7
Strana od-do 1099-1105
Kód UT WoS článku podle Web of Science 000448889600022
EID výsledku v databázi Scopus 2-s2.0-85042605382
Způsob publikování výsledku -
Předpokládaný termín zveřejnění plného textu výsledku -

Ostatní informace o výsledku

Předkladatel Ústav jaderné fyziky AV ČR, v. v. i.
Dodavatel AV0 - Akademie věd České republiky (AV ČR )
Rok sběru 2019
Specifikace RIV/61389005:_____/18:00496731!RIV19-AV0-61389005
Datum poslední aktualizace výsledku 14.05.2019
Kontrolní číslo 192094233 ( v1.0 )

Informace o dalších výskytech výsledku dodaného stejným předkladatelem

Dodáno GA ČR v roce 2019 RIV/61389005:_____/18:00496731 v dodávce dat RIV19-GA0-61389005/01:2
Dodáno MŠMT v roce 2019 RIV/61389005:_____/18:00496731 v dodávce dat RIV19-MSM-61389005/01:1

Informace o dalších výskytech výsledku dodaného ostatními předkladateli

Dodáno GA ČR v roce 2019 RIV/60461373:22310/18:43915745 v dodávce dat RIV19-GA0-22310___/01:1 předkladatelem Vysoká škola chemicko-technologická v Praze / Fakulta chemické technologie

Odkazy na výzkumné aktivity, při jejichž řešení výsledek vznikl

Podpora / návaznosti Institucionální podpora na rozvoj výzkumné organizace
Vyhledávání ...